IsoVu光隔離探頭發表時間:2021-07-24 00:12
IsoVu 光隔離探頭發現非隔離探頭隱藏的快速震蕩的信號。IsoVu? 探頭技術實際上通過光學隔離消除了共模干擾。這樣就可以按 100V/ns 或更快的速度在 ±60kV 的基準電壓上提供精確的差分測量。借助我們的 IsoVu Generation 2 設計,您能獲得 IsoVu 技術的所有優勢,但大小僅為原來探頭尺寸的 1/5。 IsoVu Gen 2 探頭憑借多功能 MMCX 連接器以及無與倫比的帶寬、動態范圍和共模抑制組合,為隔離探頭技術設定新的標準。 什么是隔離探頭?隔離探頭使用電(光學)或 RF 隔離將探頭的參考電壓與示波器的參考電壓(通常接地)隔離。這使電源設計人員能夠在存在大共模電壓的情況下準確解析高帶寬、高電壓的差分信號。泰克已開發出一項新技術 (IsoVu),該技術使用電隔離在高帶寬內提供同類探頭最佳的共模抑制性能。 與用于測量高壓信號的高帶寬傳統差分探頭相比,隔離性和高頻性相結合的 IsoVu 探頭為電源設計人員提供更精確的測量結果。應用案例包括:
更低共模噪聲,更多詳細信息IsoVu 技術采用光纖供電和光模擬信號路徑,以在測量系統和 DUT 之間實現完全的電隔離。由于支持探頭在共模電壓下獨立浮動,隔離可大大降低共模干擾。 與 4、5 或 6 系列 MSO 相結合,IsoVu 提供一種高效、可靠的方式解決快速參考轉換的高帶寬差分信號,從而使您能夠花費更少的時間進行各種“盲目設計”工作:
帶寬范圍內的高差分電壓對于傳統差分探頭,您必須在高帶寬和高電壓之間做出選擇。IsoVu 探頭采用屏蔽同軸電纜和隔離功能,提供高帶寬和 ±2500V 的差分電壓范圍。 第二代IsoVu TIVP探頭提供 200 MHz、500 MHz 和 1 GHz 的一系列帶寬,以適合您的預算并構建具有特定項目所需性能的工作平臺。 采用節省空間設計的創新技術第二代IsoVu探頭提供與我們的原始 IsoVu 探頭相同的帶寬、共模抑制性能和電壓范圍,但尺寸僅為其 1/5,且去除單獨的控制器盒。緊湊的探頭和示波器連接器中含激光器和模擬電子技術。較之原始 IsoVu 探頭,第二代光隔離探頭還具有:
連接簡單,性能更高IsoVu 探頭端部具有一系列可提供高性能和可及性的連接件和附件。 例如,MMCX 連接器是經濟的、可廣泛使用的連接器,可提供穩定的免手持的測試點,并提供最佳的帶寬和共模抑制。其堅固的金屬主體屏蔽中心導線,并最大程度地減小接地環路面積,從而將干擾降至最低。 其他附件也可用于使探頭端部適應多種連接方式。對于需要大于 ±250V 差分電壓的應用,還可另外提供 0.100 " 和 0.200 " 間距的方針端部。 不使用探頭時,傳感器探頭在探頭 SMA 連接器處具有 1MΩ 和 50Ω 可切換終端。此功能可以有效地向任何兼容示波器添加隔離通道。
價格:價格如有變更,恕不另行通知。
*出于比較目的選定最接近 THDP0200 的值 電源上的浮動測量在半橋功率轉換器中進行高壓測信號測量具有挑戰性,因為參考測量的源端或集端會快速上下震蕩。SiC 和 GaN FET 等寬禁帶器件甚至更難測量,因其可以在幾納秒內切換到高電壓??焖僮兓墓材k妷核a生的噪聲會泄漏到差分測量中,并隱藏 VGS 和 VDS 的真實情況。IsoVu 探頭具有無與倫比的全帶寬共模抑制性能,通常一次即可讓信號的真實情況一覽無余。 通過分流電阻測量電流通過測量分流電阻兩端的差分電壓可輕松獲得準確的電流測量值。但由于受到共模電壓的影響,這會是非常嚴峻的挑戰。IsoVu 憑借其高共模電壓量程和高共模抑制能力,能完成其他產品不能完成的測試。 調試 ESD 問題如果超出功能測試范圍來解決 ESD 故障根本原因,可能會不盡如人意。使用傳統電探頭時,即使示波器位于法拉第籠外,ESD 放電也會耦合到探頭中并沿電纜向下傳播至示波器。示波器上看到的任何波形均不能代表測試點實際發生的情況。但受益于光學隔離技術,IsoVu 第 2 代探頭可以防止耦合,并且可以在 ESD 和 EFT 測試期間提供更準確的 DUT行為,而不僅僅是簡單的系統測試。 測量系統可用于以下泰克示波器。需要使用示波器1.28軟件版本或更高版本。對于未列入此列表的示波器,請與本公司聯系。
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