Keithley 4200A-SCS 參數分析儀發表時間:2021-07-23 23:48
Keithley 4200A-SCS 參數分析儀使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 最高性能參數分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。
參數查看,快速清晰。推進大膽發現從未如此容易。4200A-SCS 參數分析儀從設置到運行檢定測試的時間減少高達 50%,從而實現無與倫比的測量和分析能力。此外,嵌入式測量專業知識提供無與倫比的測試指導,并讓您對最終結果充滿信息。 特點
準確的 C-V 表征使用吉時利最新的電容-電壓單元 (CVU) 4215-CVU 測量一位數飛法。通過將 1 V AC 電源集成到吉時利行業領先的 CVU 架構中,4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的頻率下進行低噪聲電容測量。 特點
測量、 切換、 重復。4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測試設置,并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。 特點
穩定的低電流測量,適用于 I-V 檢定使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊,您可以在高電容系統中實現穩定的低電流測量。4200A-SCS 有四種型號的源測量單位 (SMU) 可供選擇,可通過定制滿足您所有的 I-V 測量需求。通過提供現場可安裝單元和可選的預放大器模塊,Keithley 可確保您獲得最準確的低電流測量,而停機時間很少甚至沒有。 特點
帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。 特點
降低成本并保護您的投資吉時利保障計劃以按需服務事件的一小部分成本提供快速、高質量的服務。 只需點擊一下或撥打一個電話即可獲得維修服務,在此過程中,無需報價或填寫采購單,也不會有審批延誤。
生物傳感器檢定生物傳感器或 bioFET 將對分析物的生物響應轉換為電信號。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 軟件包括一個用于測試 bioFET 的項目。以此為起點檢定生物傳感器的傳輸和輸出特性,并從這里展開工作。 飛法電容測量使用 4215-CVU 模塊測量亞毫微微法拉電容。通過驅動 1 V AC,在測量 1 fF 電容器時,4215-CVU 的噪聲水平可低至 6 attofarad。這只是 Clarius 軟件隨附的用于測量電容和提取重要參數的數十種應用程序之一。 特點
半導體和 NVM 可靠性通過全面脈沖 I-V 檢定在測試中利用新技術。 4200A-SCS 為最新 NVRAM 技術提供支持和即用型測試,從浮動門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM,不一而足。 電流和電壓雙源和測量功能同時支持瞬態和 I-V 域檢定。 提供適合高阻抗應用的 C-V 測量功能采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術分析高電阻樣本的電容。 該技術可通過僅使用源測量單元 (SMU) 儀器實現應用,同時可與 4210-CVU 結合使用,執行更高頻率測量。 特點
使用長電纜或電容式夾具時進行測試當測試需要非常長的電纜或具有較高電容的夾具時,請使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測試站、探測器、開關矩陣或任何其他大型或復雜的測試儀?,F場可安裝版本使您無需將設備返回服務中心即可增加容量。 材料電阻率使用集成了 SMU 的 4200A-SCS,可通過四點同軸探頭或范德堡法輕松測量電阻率。 內含測試可自動重復執行范德堡計算,節省您寶貴的研究時間。 10aA 的最大電流分辨率和大于 10----16 歐姆的輸入阻抗可提供更準確和精準的結果。 MOSFET 檢定4200A-SCS 可容納所有必要的儀器,用于通過組件或晶圓測試執行全面的 MOS 設備檢定。 內含測試和項目可以解決 MOSCap 的氧化物厚度、門限電壓、摻雜濃度、移動離子濃度等問題。 只需觸摸一個儀器盒中的按鈕,即可運行所有這些測試。
Clarius+ 分析套件通過 Clarius+ 軟件套件,您可以輕松獲得材料和設備的檢定洞察。Clarius 在 4200A-SCS 上本地運行,可規劃、配置和分析測試結果。此外,還可將 Clarius 安裝在任何 Windows 10 PC 上,以便在實驗室中運行測試之前規劃和配置測試,或在收集數據后分析數據。
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